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主題: AS06【電子顯微鏡之原子結構分析】議題探討交流區
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時間 : 2011-05-13 09:36:47 |
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| 作者: 鄭淑娟 |
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各位學員您好，授課講師提供以下議題，懇請各位學員撥冗回覆您的看法喔~
可針對該課講師的議題或您對此門課程的心得、問題等提出您的看法，大家可以互動交流，以獲得課堂外意想不到的收穫喔!!
題目：
試片的厚薄，對於TEM各種成像技術及微觀分析有何優缺點? |
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第2篇回覆 主題: re:AS06【電子顯微鏡之原子結構分析】議題探討交流區
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時間 : 2011-05-22 12:20:46 |
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| 作者: 張世璋 |
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sampe 厚度要小於 100nm,這樣穿透試片的elestically scatered electrons,direct beams
and inelastically scattered electrons 強度才夠強,有利後續成像.但試片越薄越增加手工製
備的困難性. |
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第1篇回覆 主題: re:AS06【電子顯微鏡之原子結構分析】議題探討交流區
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時間 : 2011-05-19 14:14:47 |
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| 作者: 游能忠 |
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Sample厚度應至少小於100nm,最好能小於20nm,才能得到好的成相品質,厚度越小越不容易製備 |
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