南部科學園區產學協會--Academia-Industry Consortium For Southern Taiwan Science Park

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主題: 半導體材料及元件量測分析(含實作)課後討論

時間 : 2011-07-06 15:45:00

作者: 黃詩芸

各位學員您好，授課講師提供以下議題，懇請各位學員撥冗回覆您的看法喔~
可針對該課講師的議題或您對此門課程的心得、問題等提出您的看法，大家可以互動交流，以獲得課堂外意想不到的收穫喔!!

1. 低掠角X光繞射與一般ㄖ-2ㄖX光繞射分析能力有何不同?
2. X光繞射可分析材料哪些性質?

第2篇回覆主題: re:半導體材料及元件量測分析(含實作)課後討論

時間 : 2012-05-16 12:57:25

作者: 陳博雄

1. 低掠角X光繞射與一般粉末X光繞射分析能力有何不同?
低掠角X光繞射無法解析 a.材料是單晶還是多晶 b.優先取向 c.應力
2. X光繞射可分析材料哪些性質?
a.薄膜晶體種類 b.晶粒大小 c.薄膜應力 d.薄膜厚度 e.薄膜緻密度

第1篇回覆主題: re:半導體材料及元件量測分析(含實作)課後討論

時間 : 2011-07-08 20:14:55

作者: 黃國政

2. X光繞射可分析材料哪些性質?
薄膜晶粒大小，單晶，多晶，非晶，薄膜應力，薄膜密度等。